SE-VE采用光譜橢偏測量技術(shù)緊湊集成化設(shè)計思路，一鍵快速測量分析，極致便捷用戶操作體驗(yàn)，可用于各種微納米級光學(xué)薄膜快速測量表征。

1、緊湊集成化設(shè)計，輕便、體積小

2、超快測量時間，單點(diǎn)測量時間0.5-5s

3、軟件簡約設(shè)計，極致用戶操作體驗(yàn)

4、一鍵快速測量分析，人機(jī)交互設(shè)計，使用便捷

5、豐富的材料數(shù)據(jù)庫和算法模型庫