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SE-VE采用光譜橢偏測量技術(shù)緊湊集成化設(shè)計思路,一鍵快速測量分析,極致便捷用戶操作體驗(yàn),可用于各種微納米級光學(xué)薄膜快速測量表征。
1、緊湊集成化設(shè)計,輕便、體積小
2、超快測量時間,單點(diǎn)測量時間0.5-5s
3、軟件簡約設(shè)計,極致用戶操作體驗(yàn)
4、一鍵快速測量分析,人機(jī)交互設(shè)計,使用便捷
5、豐富的材料數(shù)據(jù)庫和算法模型庫
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