塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)可實現(xiàn)對金屬或半導(dǎo)體材料的熱電性能的評估。作為ZEM的特點，塞貝克系數(shù)和電阻都可以用一種儀器來測量。

ZEM-3擁有溫度精確控制的紅外金面加熱爐和控制溫差的微型加熱器；測量是由計算機控制的，并且能夠在指定的溫度下執(zhí)行測量，并允許自動測量消除背底電動勢；歐姆接觸自動檢測功能；可以用獨創(chuàng)的適配器來測量薄膜；可定制高阻型。

ZEM-3應(yīng)用方向：對于半導(dǎo)體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的熱電性能分析。

ZEM-3可選功能：1. 薄膜測量選件；2.低溫選件（溫度范圍-100℃到200℃）；3.高阻選件（最高到10MΩ）。