TEM固體加熱樣品桿是在標準樣品桿內(nèi)置加熱模塊,可在透射電鏡中實現(xiàn)固體樣品微結(jié)構(gòu)和信號變化關(guān)系的原位表征。全面升級溫度控制系統(tǒng),可對每塊芯片進行自動模擬加熱曲線,更真實反映了加熱實情,控溫更精準,加熱穩(wěn)定性更好。
對樣品程序升溫降溫可直接觀察不同溫度下的材料行為,通過精確的熱場模擬及獨特的芯片設(shè)計,實現(xiàn)超低漂移的加熱過程,可在加熱升溫過程和高溫環(huán)境進行實時觀測高分辨成像、SAED、EDS、EELS等。