蔡司Xradia CrystalCT作為首款實現(xiàn)無損衍射襯度斷層掃描（DCT）成像功能的微米CT系統(tǒng)，能同時獲得樣品的三維晶體學信息和基于吸收襯度的高分辨率三維成像數(shù)據(jù)，可為工業(yè)和科研實驗室實現(xiàn)各種金屬和合金、增材制造、陶瓷和藥物樣品等多晶材料的三維晶體學成像提供解決方案。

通過最新的高級數(shù)據(jù)采集模式，Xradia CrystalCT可實現(xiàn)大樣品體區(qū)域的無縫數(shù)據(jù)采集，提高了采集速度和減少了樣品準備時間。與傳統(tǒng)的破壞性三維晶體學成像方法相比，大體積的無損晶粒成像大幅提高了實驗數(shù)據(jù)體的代表性。