HCP621G-PM可單獨使用，也可搭配顯微鏡/光譜儀使用。其可在 -190℃ ~ 600℃ 范圍內控溫，同時允許探針電測試、光學觀察和樣品氣體環境控制。探針臺上蓋與底殼構成一個氣密腔，可往內充入氮氣等保護氣體，來防止樣品在負溫下結霜，或高溫下氧化。此外另有真空腔型號HCP421V-PM提供。