日立紫外/可見/近紅外分光光度計UH4150自問世以來，以其性能之高、應用之廣、發(fā)展之快，受到業(yè)界專業(yè)人士的極高重視與關注。對于在實際固體樣品檢測方面需要高質量數(shù)據(jù)的用戶，例如半導體開發(fā)、光學樣品和新材料領域的用戶而言，UH4150無疑是最佳的選擇。

為滿足客戶的更高要求，提供更加智能、省時的解決方案，三款UH4150搭配的自動檢測系統(tǒng)：自動角度可變檢測系統(tǒng)、自動偏振檢測系統(tǒng)、自動X-Y樣品臺檢測系統(tǒng)，通過全自動化測樣，大幅優(yōu)化測量數(shù)據(jù)的重現(xiàn)性，同時縮短測量時間，提高作業(yè)效率。目前，三款自動檢測系統(tǒng)已正式面向中國市場開售！

-自動角度可變檢測系統(tǒng)

可連續(xù)自動測定任意設置條件（偏振器角度、入射開始/結束角度、角度移動間隔）的透射、漫透射、反射以及漫反射光譜

可自動檢測絕對反射率（5°～60°）

每個樣品的作業(yè)時間可縮短約96%

----5～70°（每步進5°）、波長300～800 nm、反射光譜共測定28次（S、P偏振光）時

- 自動偏振檢測系統(tǒng)

正交位置檢測功能：以0.01°為最小步進值，自動檢測最低透射率的正交狀態(tài)，使測定結果重現(xiàn)性更加優(yōu)異。

色度分析功能：可計算出色彩(X、Y、Z)、L*,a*,b*、L,a,b、L*,u*,v*、色度坐標x,y、偏光率。

內置消偏振器，可降低儀器與光源自帶的偏振效應，減小系統(tǒng)誤差。

- 自動X-Y樣品臺檢測系統(tǒng)

可自動檢測入射角為5°的相對反射光譜和入射角為0°的透射光譜。

可連續(xù)測定預設樣品點位。

可節(jié)省裝樣時間，大幅提高作業(yè)效率,測定25個點位時，人工操作時間縮短了92％。

關于日立高新技術公司：

日立高新技術公司，于2013年1月，融合了X射線和熱分析等核心技術，成立了日立高新技術科學。以“光”“電子線”“X射線”“熱”分析為核心技術，精工電子將本公司的全部股份轉讓給了株式會社日立高新，因此公司變?yōu)槿樟⒏咝碌淖庸荆瑫r公司名稱變更為株式會社日立高新技術科學，擴大了科學計測儀器領域的解決方案。日立高新技術集團產品涵蓋半導體制造、生命科學、電子零配件、液晶制造及工業(yè)電子材料，產品線更豐富的日立高新技術集團，將繼續(xù)引領科學領域的核心技術。