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北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司是一家專注于科學(xué)研究及工業(yè)應(yīng)用的儀器渠道商和系統(tǒng)解決方案提供商，我們?yōu)楦咝！⒖蒲性核⑵髽I(yè)等各類客戶提供全面的儀器設(shè)備解決方案。
培科創(chuàng)新，與多家世界知名儀器制造商建立了良好的戰(zhàn)略合作關(guān)系，不斷優(yōu)化提升的公司自身營運和服務(wù)質(zhì)量，致力于向用戶提供國際一流的產(chǎn)品、最優(yōu)化的解決方案和高品質(zhì)的專業(yè)服務(wù).
培科創(chuàng)新，秉承高度負責(zé)和誠信的原則展開業(yè)務(wù)，努力營造公司和客戶之間互相尊重、坦誠溝通、高效互動的健康環(huán)境。我們了解客戶的實際需求，并提供合理優(yōu)質(zhì)的解決方案。培科在客戶的關(guān)注和員工們的努力中不斷進步，擁有遍布全國的營銷渠道和服務(wù)網(wǎng)絡(luò)、職業(yè)化的技術(shù)服務(wù)團隊。
專利的納米探針制作技術(shù)，探針間距可小于500nm, 能對微納器件和薄膜的電學(xué)參數(shù)進行精密測試。并可與光學(xué)顯微鏡和SEM兼容進行測試。
多種規(guī)格的陣列納米探針可選。
集成XYZ精密調(diào)節(jié)臺。
可集成源表及軟件進行表面電阻，CV，IV測試。
共聚焦顯微設(shè)計，具有衍射極限的空間分辨率；
模塊化設(shè)計，兼容多種測試方法；
TRPL時間分辨光致發(fā)光熒光壽命成像FLIM分析；
Raman分析功能；
AFM分析模塊功能。
uber G670第一次以Guinier幾何結(jié)構(gòu)，提供了一種現(xiàn)代圖像板檢測方法（image plate）。使用簡單，可以在幾分鐘內(nèi)獲得所需的數(shù)據(jù)。實際分辨率0.005度。可以配置超低溫，高溫，高壓，氣氛保護，毛細管等多種樣品環(huán)境。
CT-Nano是第一款商業(yè)化的SEM-CT聯(lián)用系統(tǒng)，適用SEM可以進行0.7納米的表面形貌分析及其他SEM表征。同一系統(tǒng)能進行實際空間分辨率達60nm的CT三維重構(gòu)分析。是材料科學(xué)研究的又一得力工具。
JCM-7000臺式掃描電子顯微鏡是日本電子新推出的一款臺式掃描電子顯微鏡，其不僅具有大型掃描電鏡的功能，相對于大型掃描電鏡其操作簡單，維護保養(yǎng)容易，體積小巧，價格低廉，檢測速度快，從啟動裝填樣品到測試出結(jié)果僅需5分鐘左右。JCM-7000還創(chuàng)新的加入了實時能譜分析和實時3D顯示的功能，更人性化的服務(wù)于您的研究和工作。
Robo-Met.3D 三維微結(jié)構(gòu)分析測試系統(tǒng)，是美國UES公司和美國空軍實驗室聯(lián)合設(shè)計開發(fā)的系統(tǒng)。為材料分析領(lǐng)域提供了一種高精度和全自動的三維微結(jié)構(gòu)重構(gòu)分析平臺。可廣泛應(yīng)用到各種材料領(lǐng)域快速獲得3D微結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)和分析。
自動拋磨重構(gòu)層數(shù)：最大可至200層；
分辨率：光學(xué)顯微鏡200納米，SEM 3nm。
高光譜成像是將成像技術(shù)和光譜分析技術(shù)的結(jié)合，將以前常用的單點光譜分析技術(shù)拓展至空間的多點成像.
EOS高光譜系統(tǒng)既可以實現(xiàn)宏觀大范圍成像，也可以實現(xiàn)微區(qū)分析成像。具有成像質(zhì)量高，無鬼影，光譜分辨率高，波段范圍寬等特點
